소자 연구실 1

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Solar Cell I-V 측정 장비

합성 연구실

소자 제작 장비

Thermal evaporation system 1

제조사

Sunic (Sunicel 120 plus)

제원

- 증착 chamber 1개, Buffer

   chamber 1개 (load / unload)

- 진공도 : < 5.0E-7 Torr

- 유기물 증착 source : 10 개

- 금속 증착 source : 4 개

- 마스크 2개 (organic, metal)

- Encapsulation 용 glove box

Thermal evaporation system 2

제조사

Selcos (CETUS OL 150)

제원

- 증착 chamber 2개, Loadlock

  chamber 1개 (load / unload)

- 진공도 : < 5.0E-7 Torr

- 유기물 증착 source : 10 개

- 금속 증착 source: 4 개

- 마스크 2개(organic, metal)

- Sub-shutter 시스템

- Aligner 회전 시스템

- Encapsulation 용 glove box

Glove box & Spin coater

제조사

Inexus.inc (Spin coater ACE-200)

제원

- 웨이퍼 크기(최대) : 직경 4" ~ 6"

- Bowl 크기 : 235 m/m Bowl

- Bowl 재질 : SUS

- Special DC Motor : Up & Down free

- Step : 100 step

- 회전속도 : 0 to 50 ~ 8,000 rpm

- Hold Time : 1~999sec

- 정확도 : ± 1 R.P.M

- Acceleration, deceleration free :
  3,000 R.P.M/sec

- Power Input : AC 220V, 50/60Hz

- Vacuum Input
  -450 ~ -650mmHg (6mm ID / 8mm OD)

- 크기 : 320 × 420 × 220 mm

소자 평가 장비

Dark box

제조사

ENC technology

제원

- Spectrometer 측정기 및 컴퓨터

- 측정 kit 2종

   · 측정 가능 기판 사이즈

     (25 × 25 mm², 50 × 50 mm²)

   · 전면 및 배면 발광 소자 측정 가능

- 측정 시 CCD camera 관찰 가능

- 측정 가능한 factor

   ·  I-V, J-V, L-cd/A, L-lm/W, CIE

      coordinate, CCT, EQE, CRI

Luminance

              & color meter

제조사

Konica minolta (CS-100A)

제원

- 휘도 측정 범위 : 0.01 ~ 299,000 cd/m²

- 정밀도

   ·  휘도 (Y) ± 2%

   ·  색좌표 (x, y) ± 0.004

Spectroradiometer

제조사

Konica minolta (CS-2000)

제원

- 측정 파장 범위 : 380 ~ 780 nm

- 휘도 측정 범위
   0.0125 ~ 125,000 cd/m²

- 정밀도

   ·  휘도 (Y) ± 2%

   ·  색좌표 (x, y) ± 0.015

적분구

제조사

Photal Otsuka electronics (LE-5400)

제원

- 적분 기반 분광광도 방식

- 측정 파장 범위 :  300 ~ 800 nm

- 정밀도 : ± 0.3 nm

수명 측정 장비

제조사

S-fac (OLA300)

제원

- 일정 전류 제어 방식

- 측정 kit

   2 pins (signal, ground) / 4 points

- 전압 측정 범위

   - 10 V ~ + 10 V (1 mV 분해능)

- 전류 측정 범위

   - 10 mA ~ 10 mA (1 uA 분해능)

- 28개 소자 동시 측정 가능

- 측정 가능 기판 사이즈

   ·  25 × 25 mm² (배면 발광 소자)

   ·  50 × 50 mm² (전면 발광 소자)

- 측정 환경 : 실온 (25 ˚C)

Solar cell I-V 측정 장비

제조사

McScience (K3000 LAB)

제원

- K101 LAB50 Solar simulator (with K401 CW150 Lamp

  Power Supply)

   ·  1.2 sun intensity, 50 x 50 mm², Class AAA

- K101 LAB20 Photovoltaic Power meter(SMU)

   ·  CC/CV pulse (± 10 V, ± 1 A)

- 측정 소프트웨어 내장

항온항습조

제조사

JEIO Tech (TH-I)

제원

- 온도 조절 범위 (˚C) : -40 ~ 150

- 습도 조절 범위 (%RH) : 20 ~ 98)

물성 분석 장비

UV-visible spectrophotometer

제조사

Jasco (V-750)

제원

- 광원 : 할로겐 램프, 듀테륨 램프

- 파장 범위 : 190- 900 nm

- Data intervals : 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2,
                            5, 10 nm

- 파장 정확도
  ± 0.2 nm (at 656.1 nm)

- 스캔 속도
  10~4000 nm/min
  (8000 nm/min in preview mode)

- 샘플 유형 : 용액 / 박막

 

Spectrofluorometer (PL measuring system)

제조사

Jasco (FP-8500)

제원

- 광원 : Continuous output Xe arc
            lamp with shielded lamp
            housing (150 W)

- 파장 범위 : Zero order, 200-850 nm

- Data intervals
  1, 2.5, 5, 10, 20, L5, L10 nm

- 파장 정확도 : ±1.0 nm

- Scanning speed
  110, 20, 50, 100, 200, 500, 1,000,
  2,000, 5,000, 10,000, 20,000,
  60,000 nm/min

- 샘플 유형 : 용액 (Cuvette)

Fluorescence lifetime spectrometer & cryo set

제조사

Hamamatsu (C11367)

제원

- 광원 : 60 W Xenon lamp

- 파장 범위 : 200 ~ 900 nm

- 파장 해상도: 1 nm

- 파장 정확도 : ± 1.5 nm

- 파장 스캔 속도
   ~ 3,000 nm/min

- 샘플 유형
   ·  용액, 박막

   ·  저온 PL (용액)

Cyclic voltammetry

제조사

Bio Logic (SP-50)

Specification

- 전류 범위 : 10 μA to 800 mA

- 전류 해상도 : 760 pA

- Control voltage : ±10 V

- 조절 전압 : ±10 V

- Compliance : ±10 V

- 전압 해상도 : 5 μV

- Acquisition time : 20 μs

- Control software : EC-Lab®
  & EC-Lab® Express

 

Ellipsometer

 

제조사

HORIBA (JOBIN YVON)

제원

- UVISEL Specifications

 · 스펙트럼 범위 : from 190 to 920 nm │NIR extension option up to 2100 nm

 · Detection : High resolution monochromator coupled to sensitive detectors

 

- Integrated Goniometer

 · 수동 입사각 조절 : 35° to 90° by 5° step

 · 샘플 홀더 : 150mm, 20mm manual z height adjustment

 · Autocollimation system for sample alignment in option

 · 크기 : width: 25cm; height: 35cm; depth: 21 cm

 

- Performance

 · 정확도 : Ψ= 45°±0.01° and Δ=0°±0.01°
                measured in straight-through air configuration1.5 – 5.3 eV

 · Repeatability : NIST 1000 Å SiO2/Si (190-2100 nm) : d ± 0.1 % – n(632.8nm)
                           ± 0.0001

Alpha step stylus profiler

제조사

KLA Tencor (D-500)

제원

- 최대 수직 범위 1200 μm

- 최저 측정 세기 0.03 to 15 mg
- Step height repeatability of 5 Å on a

  1 μm step
- High resolution 5 MP color camera

  with 4x digital zoom

시뮬레이션 툴

Fluxim Setfos 4.5

Sim4tec SimOLED

Accelrys® Material studio 8.0

Gaussian 16

합성 연구실

보유 장비

- 로터리 2대

 

- 증류수 제조기 1대

 

- 반응기 5대

유기 광전자 소자 연구실 (OODL)

서울특별시 동대문구 경희대로 26 경희대학교

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